Основное направление деятельности:
Исследование свойств материалов
Исследования материалов
Используемые методики испытания материалов:
- спектроскопия колебательных переходов:
- спектроскопия резонансного комбинационного рассеяния;
- фурье-спектроскопия ИК-поглощения и отражения;
- спектроскопия электронных переходов:
- фотолюминесценция;
- поглощение в УФ – видимом – ближнем ИК диапазоне;
- электронный КРС;
- оптические исследования в условиях низких и высоких температур (5 – 700 К);
- рентгеновские микродифрактометрия и топография;
- электронно-микроскопические исследования на приборе JEM-2010 просвечивающего типа с EDS приставкой (элементный анализ);
Методики сканирующей зондовой микроскопии:
- сканирующая туннельная микроскопия (СТМ);
- туннельная спектроскопия;
- контактная атомно-силовая микроскопия (АСМ);
- микроскопия латеральных сил (МЛС);
- резонансная АСМ (полуконтактная+бесконтактная);
- метод отображения фазы;
- метод модуляции силы;
- изображение силы адгезии;
- отображение сопротивления растекания;
- сканирующая емкостная микроскопия (СЕМ);
- метод зонда Кельвина;
- магнитно-силовая микроскопия;
- электро-силовая микроскопия (ЭСМ);
- поперечно-силовая микроскопия;
- измерение модуля упругости методом кривых подвода;
- измерение твердости методом склерометрии;
Определение физ-мех свойств
Применяемые методики физико-механических испытаний:
- сканирующая зондовая микроскопия:
- рельеф, шероховатость;
- карта механических неоднородностей;
- профилометрия;
- индентирование/царапание:
- микротвердость;
- нанотвердость;
- модуль упругости (Юнга);
- степень упругого восстановления;
- адгезия;
- карта твердости;
- жесткость микроконструкций;
- механическая нанолитография;
- трещиностойкость, прочность, адгезия и толщина тонких пленок;
Электроизмерения и ЭМС
Измерения температурных зависимостей электрической проводимости (электросопротивления), коэффициента Холла, концентрации носителей заряда и их холловской подвижности в полупрводниках:
- измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик (Диапазон токов 1 pA-100 mA, диапазон напряжений (-100) – (+100) В.);
- температурные зависимости электрических характеристик (Диапазон от 10 до 800 К);
- измерения ЭДС Холла в магнитном поле до 2 Тесла;
Оборудование
Сканирующий нанотвердомер NANOSCAN 3D
Зондовая нанолаборатория ИНТЕГРА
Оптический микроскоп DURASCAN
Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2010
Сканирующий электронный микроскоп JSM-7600F
Машина универсальная напольная для электромеханических испытаний Instron 5982 (Германия)
Перчаточный бокс с доп. функциями Unilab 1200/780. M.Braun (Германия)
Планетарная мельница AGO-3Y
Порошковый дифрактометр для исследования структуры поликристаллических образцов TETA ARL X’TRA с детектором Пельтье
Универсальный дифрактометр Empyrean
Rigaku XRT-100CCM - рентгеновская дифракционная топографическая система с кристаллом-монохроматором
Спектрофотометр Сary 4000
ИК Фурье-спектрометр Thermo Nicolet Nexus 470 FT-IR
Вакуумный Фурье-спектрометр VERTEX 80v c ИК микроскопом HYPERION2000, криостатом от 80К и различными приставками
Комплекс всеволновой КРС-спектороскопии монокристаллов
Спектрометры TRIAX-552
Спектрометры iHR550
Установка LakeShore Cryotronics 7504
Сканирующая зондовая нанолаборатория Интегра-Прима
Сканирующий нанотвердомер НаноСкан-3D
Сканирующий нанотвердомер НаноСкан-Компакт
3D профилометр конфокальный микроскоп
Весы лабораторные электронные KERN-770-60
Низкотемпературный дифференциальный сканирующий калориметр DSC 8000 (Perkin Elmer, США)
Анализатор тепло- и температуропроводности LFA 457/2/G MicroFlash (NETZSCH)
Прибор для определения электрического сопротивления и коэффициента Зеебека LSR-3 (LINSEIS)
